詳細摘要： 1、機械密封件平面度檢測儀是由平面平晶和鈉光燈源箱組成的一套平面度檢測儀，又叫平面光帶檢測儀，其中采用的1級平面平晶是以光波干涉原理為基礎，利用平晶測量面與工件...
產品型號：所在地：上海更新時間：2025-03-27 在線留言上海奕縱精密儀器有限公司
上海奕縱精密儀器有限公司
詳細摘要： 1、機械密封件平面度檢測儀是由平面平晶和鈉光燈源箱組成的一套平面度檢測儀，又叫平面光帶檢測儀，其中采用的1級平面平晶是以光波干涉原理為基礎，利用平晶測量面與工件...
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詳細摘要： 1、機械密封件平面度檢測儀是由平面平晶和鈉光燈源箱組成的一套平面度檢測儀，又叫平面光帶檢測儀，其中采用的1級平面平晶是以光波干涉原理為基礎，利用平晶測量面與工件...
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詳細摘要： 1、平面平晶是以光波干涉原理為基礎，利用平晶測量面與工件的被測量面之間所出現的干涉條紋來測量被測量面的平面度。平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度，以及儀器量具...
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詳細摘要： 1、平面平晶是以光波干涉原理為基礎，利用平晶測量面與工件的被測量面之間所出現的干涉條紋來測量被測量面的平面度。平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度，以及儀器量具...
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詳細摘要： 1、平面平晶是以光波干涉原理為基礎，利用平晶測量面與工件的被測量面之間所出現的干涉條紋來測量被測量面的平面度。平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度，以及儀器量具...
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詳細摘要： 平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶共分四個系列，每個系列各分六組，每組四塊。功能：平行平...
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詳細摘要： 1、平面平晶是以光波干涉原理為基礎，利用平晶測量面與工件的被測量面之間所出現的干涉條紋來測量被測量面的平面度。平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度，以及儀器量具...
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詳細摘要： 1、平面平晶是以光波干涉原理為基礎，利用平晶測量面與工件的被測量面之間所出現的干涉條紋來測量被測量面的平面度。平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度，以及儀器量具...
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詳細摘要： DX-100數據處理測長儀是光、機、電、算一體化的長度計量儀器，除可用于對零件的內外尺寸進行測量和比較測量外，還可使用儀器所帶的專用附件組合進行各種特殊測量，該...
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詳細摘要： 量塊是長度計量的實物基準，量塊的各項精度指標符合國家標準及國際標準，可按GB/T,或DIN861標準制造。量塊是一種無刻度的標準端面量具，其制造材料為特殊合金鋼...
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詳細摘要： 玻璃線紋尺主要是用于比長儀、輪廓投影儀、二次元影像測量儀、工具顯微鏡、測量機等長度測量工具中作為測量校準的標準光學計量部件，測量精度符合JJG73-2005計量...
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詳細摘要： 1、平面平晶是以光波干涉原理為基礎，利用平晶測量面與工件的被測量面之間所出現的干涉條紋來測量被測量面的平面度。平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度，以及儀器量具...
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詳細摘要： 標準量塊是由兩個相互平行的測量面之間的距離來確定其工作長度的高精度量具，其長度為計量器具的長度標準，通過對計量儀器、量具和量規(guī)等示值誤差的檢定等方式，使機械加工...
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